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カメカ社 製品情報


カメカ製品

カメカ事業部の代表的な製品のご案内です。

SIMS(二次イオン質量分析装置)

SIMS(二次イオン質量分析装置)

自動測定による高い分析効率を実現したIMS 7F-Autoからコンパクトな地質学調査に適するIMS 7F-GEO、高感度、高質量分解能を実現し、広範囲なアプリケーションに対応可能なIMS 1300-HR3 など お客様のニーズに応じた様々な製品ラインアップにて課題解決をサポート致します。

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APT(アトムプローブトモグラフィー)

3次元イメージング質量分析装置です。ほぼ原子分解能で試料中の元素分布を定量的に捉えることができます 金属材料に特化した廉価版(EIKOS)と高速で且つ高い検出感度を備えた(LEAP 5000)にて課題解決をサポート致します。

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EPMA(電子線マイクロアナライザー)

第5世代の電子線マイクロアナライザ(EPMA)です。定評のある従来機の特徴をすべて備えており、 LEXES の開発を通して得られた新技術が盛り込まれています。SXFiveFEは、高分解能タイプで、電界放出型電子銃を搭載しております。 また放射性物質、照射材料の高感度元祖分析に最適なSKAPHiAは原子力産業が抱えている課題解決をサポート致します。

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LEXES(低エネルギー電子線励起X線分光法)

EX-300

LEXES(Low energy Electron induced X-ray Emission Spectroscopy)の表面分析技術をベースにした装置で、半導体製造ラインにおける計測や薄膜製造のR&Dにおいて幅広く使用されています。

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ニューインスツルメンツ社製品

ニューインスツルメンツ社の代表的な製品のご案内です。

ICP-MS(ICP質量分析計)

Sapphire

高エネルギーと低エネルギーの2つの切替できる2つのイオンビーム経路を備えたマルチコレクター型ICP質量分析装置Sapphire、 Liからアクチノイド元素までの同位体測定が可能な第3世代マルチコレクター型ICP質量分析装置(MC-ICP-MS)Plasma 3、超高感度の元素定量分析だけでなく、 高精度同位体比測定にも適用できる高分解能ICP質量分析装置 Attom ES などお客様のニーズに応じた幅広いラインアップにて課題解決をサポートします。

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GD-MS(グロー放電質量分析計)

Astrum

Astrum

導体・半導体の固体試料中の、75以上の元素を主成分から超微量成分まで一斉分析します。標準物質が無くても定量的な分析値が得られ、薄膜分析や深さ方向分析、絶縁性試料への応用も可能です。

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SIRMS(安定同位体質量分析計)

perspective

極微量のサンプルで高精度同位体比測定を実現する安定同位体質量分析装置 Perspective 、 使いやすいソフトウェアと、コンパクトで高性能なハードウェアをもつ、次世代の安定同位体質量分析装置Horizon 、 超高分解能マルチコレクター質量分析計による既存の分析計の性能をはるかに凌ぐ安定同位体質量分析装置(IR-MS) Panorama にて 課題解決のサポートを致します。

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TIMS(表面電離型質量分析計)

Nu TIMS

Nu TIMS

当社のマルチコレクター質量分析計の技術を用いて開発した、高性能で使いやすい表面電離型質量分析計です。

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NG-MS(希ガス質量分析計)

Noblesse HR

Noblesse HR

高感度、高精度でかつ拡張性の高い希ガス用同位体質量分析計です。希ガスの同重体に対するほとんどの干渉イオンを分離可能です。

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お問合せ

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