LEAP6000XRは専用マイクロチップを活用した高度な自動分析機能のため、分析の歩留まり改善と感度向上を実現しています。 3次元アトムプローブの測定時、パルス印加時以外に生じる定常的な電界蒸発が質量スペクトルのバックグラウンドの原因となります。CAMECAは電界パルスとレーザパルスを試料に同時に加える測定モードを開発、このハイブリッドモードによりバックグラウンドを大幅に抑えることに成功しました。